YP-150I YP-250I鹵素燈光源裝置YAMADA山田光學
YP-150I高亮度鹵素燈 YAMADA山田光學鹵素光源裝置
YP-150I高亮度鹵素燈 YAMADA山田光學鹵素光源裝置YP-150ID
YP-150I對應(yīng)檢查6寸半導體晶片
YP-250I可對應(yīng)檢查8英寸半導體晶片
根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅
等半導體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等 照度在400000Lx以上
YP-250I鹵素燈通風機可選擇螺旋式風扇或者管道通風型
YP-150I照度范圍φ30
YP-250I照度范圍φ60
用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
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